LET-SP802半導體參數測試系統-云帆興燁
型號：LET-SP802
LET-SP802 半導體測試系統是一款測量與分析功率半導體器件靜態參數的專用儀器， 為所有類型的功率半導體器件提供靜態參數測量解決方案。
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產品描述
LET-SP802 半導體圖示儀是一款測量與分析功率半導體器件靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率半導體器件提供靜態參數測量解決方案。SP802 半導體測試系統能在 200V 和 10A 的條件下實現精確測量、分析功率半導體器件的靜態參數。
主要技術規格>>>
■電壓(源和測量):<200V
■電流(源和測量):<10A
■精度：0.03%
■支持器件：MOSFET,IGBT,DIODE
■支持封裝：TO-247/220/3P,SOT223
