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進(jìn)口大功率高精度晶體管圖示儀，廣泛應(yīng)用于分立器件封裝測(cè)試，制造企業(yè)的分立器件來料檢驗(yàn)，失效分析實(shí)驗(yàn)

ITC55100C 型號(hào)是最新一代的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)系列 ITC55100 測(cè)試儀。該系統(tǒng)是圍繞一個(gè)非常強(qiáng)大的微控制器設(shè)計(jì)的，它的時(shí)序分辨率為40ns，比前代型號(hào)快20倍。

ITC75100 是一種增強(qiáng)的未夾式電感負(fù)載 （UIL） 測(cè)試系統(tǒng)，它基于 ITC 行業(yè)領(lǐng)先的 ITC55 系列測(cè)試儀的成功，增加了額外的測(cè)試和測(cè)量能力。

最大電流-控制設(shè)置為200 mA時(shí)，STEP AMPLITUDE設(shè)置為20x，STEP AMPLITUDE設(shè)置為10x。

交互式可編程控制；自動(dòng)光標(biāo)測(cè)量；掃描測(cè)量模式